Compatível com chips de 7,2 mm a 82 mm 
Distância de trabalho alta/baixa 
Lente telecêntrica de abertura 
Lente de medição 
Suporte máximo para chips de 1,1". 
Suporte máximo para chips de 1,2". 
Suporte máximo para chips de 2/3". 
Longa distância de trabalho 
Lente varifocal com montagem CS 
Lente varifocal plana 
Lente com montagem S 
Luz circular 
Luz UV/IR 
Luz de bar 
Luz arqueada de alta uniformidade 
Luz de fundo 
Luz plana 
Luz colimada 
Luz coaxial 
Holofote 
Luz de cúpula 
Luz coaxial colimada 
Luz quadrada sem sombras 
Luz de varredura 
Luz AOI 
Controlador analógico 
Guia linear de rolos cruzados 
Série Rotary Stages XRS 
Estágios de translação linear com rolamentos de esferas de aço inoxidável 
Estágios de translação multi-eixos 
estágios de rolamento de esferas de barra de aço 
Estágio de posicionamento tipo cremalheira e pinhão com encaixe em cauda de andorinha 
Deslizador de parafuso de alta precisão com ranhura em cauda de andorinha 
 |
- Lente telecêntrica
- Lente de câmera de segurança
- Fonte de luz industrial
- Estágios e Slides Manuais
- Guia linear de rolos cruzados
- Estágios rotativos: Série XRS
- Estágios rotativos de alta precisão: série XRSP
- Estágios de translação linear com rolamentos de esferas em aço inoxidável: Série XLB
- Estágios de translação multi-eixos
- Estágios de rolamento de esferas de barra de aço: Série XLG
- Estágio de posicionamento tipo cremalheira e pinhão com encaixe em cauda de andorinha
- guia de parafuso de alta precisão com ranhura em cauda de andorinha
0102030405
Mesa deslizante de deslocamento manual XYθ da série XLS com combinação multieixos
Parâmetros de estágios e slides manuais
| Modelo | Tipo de movimento | Material | Tipo de acionamento | Tamanho da superfície | Viagem | Capacidade de carga | Valor mínimo da escala | Peso | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| MAIS+MENOS- | XLSP40-LM | XYθ | Liga de alumínio (ânodo preto) | Cabeça do micrômetro | Φ38mm | XY: ±6,5 mm θ: ajuste grosso de 360°, alinhamento preciso de ±5°mm | 8,8 N (1 kgf) | 0,01 mm | 0,37 kg |
| MAIS+MENOS- | XLS60-LM | XYθ | Liga de alumínio (ânodo preto) | Cabeça do micrômetro | Φ60mm | XY: ±6,5 mm θ: ajuste grosso de 360°, alinhamento preciso de ±5°mm | 29,4 N (3 kgf) | 0,01 mm | 0,64 kg |
| MAIS+MENOS- | XLSP60-LM | XYθ | Liga de alumínio (ânodo preto) | Cabeça do micrômetro | Φ60mm | XY: ±6,5 mm θ: ajuste grosso de 360°, alinhamento preciso de ±5°mm | 29,4 N (3 kgf) | 0,01 mm | 0,78 kg |
| MAIS+MENOS- | XLSP80-L | XYθ | Liga de alumínio (ânodo preto) | Cabeça do micrômetro | Φ80mm | XY: ±12,5 mm θ: ajuste grosso de 360°, alinhamento preciso de ±5°mm | 39,2 N (4 kgf) | 0,01 mm | 1,57 kg |
| MAIS+MENOS- | XLS90-LM | XYθ | Liga de alumínio (ânodo preto) | Cabeça do micrômetro | Φ90mm | XY: ±12,5 mm θ: ajuste grosso de 360°, alinhamento preciso de ±5°mm | 29,4 N (3 kgf) | 0,01 mm | 1,50 kg |
| MAIS+MENOS- | XLSP90-LM | XYθ | Liga de alumínio (ânodo preto) | Cabeça do micrômetro | Φ90mm | XY: ±12,5 mm θ: ajuste grosso de 360°, alinhamento preciso de ±5°mm | 39,2 N (4 kgf) | 0,01 mm | 1,62 kg |
| MAIS+MENOS- | XLS125-LM | XYθ | Liga de alumínio (ânodo preto) | Cabeça do micrômetro | Φ125mm | XY: ±12,5 mm θ: ajuste grosso de 360°, alinhamento preciso de ±5°mm | 49N (5kgf) | 0,01 mm | 2,42 kg |
| MAIS+MENOS- | XLSP125-LM | XYθ | Liga de alumínio (ânodo preto) | Cabeça do micrômetro | Φ125mm | XY: ±12,5 mm θ: ajuste grosso de 360°, alinhamento preciso de ±5°mm | 49N (5kgf) | 0,01 mm | 2,72 kg |
| MAIS+MENOS- | XLSPK100-LB | XYθ | Liga de alumínio (ânodo preto) | Cabeça do micrômetro | Φ100mm | XY: ±12,5 mm θ: ajuste grosso de 360°, alinhamento preciso de ±5°mm | 49N (5kgf) | 0,01 mm | 1,39 kgf |
| MAIS+MENOS- | XLSPK160-LM | XYθ | Liga de alumínio (ânodo preto) | Cabeça do micrômetro | Φ158mm | XY: ±12,5 mm θ: ajuste grosso de 360°, alinhamento preciso de ±5°mm | 49N (5kgf) | 0,01 mm | 6,04 kgf |
